俄歇电子能谱分析方法通则
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 26533-2011
俄歇电子能谱分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2011-05-12
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 19500-2004
X-射线光电子能谱分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2004-04-30
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】17.180.30光学测量仪器
GB/T 32998-2016
表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-10-13
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 28893-2024
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 41064-2021
表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 28893-2012
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-11-05
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
20232750-T-469
表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 29081:2010
表面化学分析 俄歇电子能谱 报告用于充电控制和充电校正的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-02-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
ISO 29081:2010
表面化学分析——俄歇电子能谱；报告用于充电控制和充电校正的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2010-02-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 20903:2019
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2019-02-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
ISO 20903:2019
表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2019-02-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 17109:2022
表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2022-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS 09/30184131 DC
BS ISO 29081 表面化学分析 俄歇电子能谱 报告用于充电控制和充电校正的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2009-01-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
BS ISO 20903:2011
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2011-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ISO 20903:2011
表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2011-10-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
ISO 20903:2006
表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.报告结果时确定峰值强度和所需信息的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2006-07-04
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
BS ISO 20903:2006
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2006-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ISO 17109:2015
表面化学分析 - 深度分析 - X射线光电子能谱法中的溅射速率测定方法 俄歇电子能谱和二次离子质谱法使用单层和多层薄膜的溅射深度分析
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2015-07-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
BS ISO 17109:2015
表面化学分析 深度剖面 X射线光电子能谱中溅射速率的测定方法 使用单层和多层薄膜的俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度剖面
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2015-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
