半导体器件键合用金丝

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-17 16:22:26    点击数:

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GB/T 8750-2007

半导体器件键合用金丝

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2007-11-23
  • 【CCS分类】H68贵金属及其合金
  • 【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品

YS/T 678-2008

半导体器件键合用铜丝

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2008-03-12
  • 【CCS分类】H61轻金属及其合金
  • 【ICS分类】77.150.10铝产品

YS/T 641-2007

半导体器件键合用铝丝

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2007-04-13
  • 【CCS分类】H61轻金属及其合金
  • 【ICS分类】77.150.10铝产品

GB/T 8750-1997

半导体器件键合金丝

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1997-12-22
  • 【CCS分类】H68贵金属及其合金
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 41853-2022

半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2022-10-12
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件

GB/T 8750-2014

半导体封装用键合金丝

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2014-07-24
  • 【CCS分类】H68贵金属及其合金
  • 【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品

YS/T 543-2015

半导体键合用铝-1%硅细丝

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2015-04-30
  • 【CCS分类】H61轻金属及其合金
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 4937.22-2018

半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-09-17
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

T/CMIF 137-2021

半导体封装键合用银金合金丝

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2021-01-19
  • 【CCS分类】H60/69有色金属及其合金产品
  • 【ICS分类】31.190电子元器件组件

T/ZZB 1718-2023

半导体封装用键合金丝

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2024-11-14
  • 【CCS分类】H68贵金属及其合金
  • 【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品

T/ZZB 1718-2020

半导体封装用键合金丝

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2020-09-30
  • 【CCS分类】H68贵金属及其合金
  • 【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品

SJ/T 10705-1996

半导体器件键合丝表面质量检验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1996-07-22
  • 【CCS分类】L40/49半导体分立器件
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

ASTM F72-24

半导体引线键合用金线的标准规范

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2024-04-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

ASTM F72-21

半导体引线键合金丝的标准规范

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2021-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

ASTM F72-17

半导体引线键合金丝的标准规范

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2017-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】半导体器分立件综合

ASTM F72-17e1

半导体引线键合金丝的标准规范

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2017-12-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.01电线

ASTM F72-95

半导体引线键合金丝的标准规范

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2001-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ASTM F72-95(2001)

半导体引线键合金丝的标准规范

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2001-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.060.10

DIN IEC 62047-9-DRAFT

文件草稿.半导体器件.微机电器件.第9部分:MEMS用晶片间键合强度测量(IEC 47/1947/CD:2007)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2008-03-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS 3934-5:1997

半导体器件的机械标准化 适用于集成电路磁带自动键合(TAB)的建议

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】1997-09-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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