半导体器件键合用金丝
原创来源:北检院 发布时间:2025-01-17 16:22:26 点击数:
全国服务领域:河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门
半导体器件键合用金丝
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2007-11-23
-
【CCS分类】H68贵金属及其合金
-
【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品
半导体器件键合用铜丝
-
【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
-
【发布日期】2008-03-12
-
【CCS分类】H61轻金属及其合金
-
【ICS分类】77.150.10铝产品
半导体器件键合用铝丝
-
【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
-
【发布日期】2007-04-13
-
【CCS分类】H61轻金属及其合金
-
【ICS分类】77.150.10铝产品
半导体器件键合金丝
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】1997-12-22
-
【CCS分类】H68贵金属及其合金
-
【ICS分类】29.045半导体材料
半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2022-10-12
-
【CCS分类】L55微电路综合
-
【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体封装用键合金丝
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2014-07-24
-
【CCS分类】H68贵金属及其合金
-
【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品
半导体键合用铝-1%硅细丝
-
【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
-
【发布日期】2015-04-30
-
【CCS分类】H61轻金属及其合金
-
【ICS分类】29.045半导体材料
半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度
-
【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
-
【发布日期】2018-09-17
-
【CCS分类】L40半导体分立器件综合
-
【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
半导体封装键合用银金合金丝
-
【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
-
【发布日期】2021-01-19
-
【CCS分类】H60/69有色金属及其合金产品
-
【ICS分类】31.190电子元器件组件
半导体封装用键合金丝
-
【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
-
【发布日期】2024-11-14
-
【CCS分类】H68贵金属及其合金
-
【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品
半导体封装用键合金丝
-
【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
-
【发布日期】2020-09-30
-
【CCS分类】H68贵金属及其合金
-
【ICS分类】77.150.99其他有色金属产品
半导体器件键合丝表面质量检验方法
-
【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
-
【发布日期】1996-07-22
-
【CCS分类】L40/49半导体分立器件
-
【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
半导体引线键合用金线的标准规范
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2024-04-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
半导体引线键合金丝的标准规范
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2021-01-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
半导体引线键合金丝的标准规范
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2017-12-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】半导体器分立件综合
半导体引线键合金丝的标准规范
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2017-12-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】31.080.01电线
半导体引线键合金丝的标准规范
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2001-01-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】
半导体引线键合金丝的标准规范
-
【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
-
【发布日期】2001-01-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】29.060.10
文件草稿.半导体器件.微机电器件.第9部分:MEMS用晶片间键合强度测量(IEC 47/1947/CD:2007)
-
【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
-
【发布日期】2008-03-01
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】
半导体器件的机械标准化 适用于集成电路磁带自动键合(TAB)的建议
-
【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
-
【发布日期】1997-09-15
-
【CCS分类】
-
【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
以上是关于"半导体器件键合用金丝"的介绍,如有其他问题可以咨询工程师为您服务!
实验室仪器

荣誉资质

