锗晶体缺陷图谱
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 8756-2018
锗晶体缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 8756-1988
锗晶体缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1988-02-25
- 【CCS分类】H24金相检验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-12-29
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 43612-2023
碳化硅晶体材料缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 37051-2018
太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
KS D 0258-2012(2022)
用优先蚀刻技术测试硅中晶体缺陷的方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2012-05-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
JIS H 0609:1999
用优先腐蚀技术测试硅晶体缺陷的方法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】1999-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
