锗晶体缺陷图谱
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-17 16:57:58 点击数：
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GB/T 8756-2018
锗晶体缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 8756-1988
锗晶体缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1988-02-25
- 【CCS分类】H24金相检验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-12-29
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 43612-2023
碳化硅晶体材料缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 37051-2018
太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
KS D 0258-2012(2022)
用优先蚀刻技术测试硅中晶体缺陷的方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2012-05-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
JIS H 0609:1999
用优先腐蚀技术测试硅晶体缺陷的方法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】1999-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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