砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
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高新技术企业
GB/T 8758-2006
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-18
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 8758-1988
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1988-02-25
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
GB/T 11068-2006
砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-18
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
SJ 3247-1989
同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1989-03-20
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】盐
GB/T 11068-1989
砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】71.060.50
SJ 3244.2-1989
砷化镓、磷化铟衬底与异质结外延层之间晶格失配的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1989-03-20
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】
