表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱-横向分辨率测定
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CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 28632-2012
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-07-31
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 29556-2013
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-07-19
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 18516:2006
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2006-11-30
- 【CCS分类】计算机应用
- 【ICS分类】信息技术在自然科学中的应用
GB/T 21006-2007
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2007-07-31
- 【CCS分类】L67基础标准与通用方法
- 【ICS分类】35.240.70化学分析
GB/T 28893-2024
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
KS D ISO 19319-2005(2020)
表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2005-12-28
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 41064-2021
表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 30702-2014
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-06-09
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 18516:2006
表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——横向分辨率的测定
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2006-10-19
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 28633-2012
表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-07-31
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 25185-2010
表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2010-09-26
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 28893-2012
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-11-05
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO/TR 19319:2003
表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.用分析仪观察横向分辨率 分析面积和样品面积的测定
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2003-11-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS PD ISO/TR 19319:2003
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定分析仪观察到的横向分辨率、分析面积和样品面积
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2005-04-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
KS D ISO 21270-2005(2020)
表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2005-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 21270:2004
表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2004-06-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 21270:2004
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2005-03-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20232364-T-469
表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40
BS ISO 20903:2019
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2019-02-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20232363-T-469
表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40
