集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

2025-01-21 10:13:17 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/Z 43510-2023

集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学