电工术语-半导体器件和集成电路
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-21 15:03:39 点击数：
全国服务领域：河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门
GB/T 2900.66-2004
电工术语 半导体器件和集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2004-05-10
- 【CCS分类】K04基础标准和通用方法
- 【ICS分类】01.040.29电气工程 (词汇)
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 20515-2006
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14113-1993
半导体集成电路封装术语
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
GB/T 16464-1996
半导体器件 集成电路 第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ 20758-1999
半导体集成电路CMOS门阵列器件规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-11-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
20233861-T-339
半导体集成电路封装术语
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
KS C IEC 60050-521-2002(2022)
半导体器件和集成电路
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-03-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C IEC 60050-521-2002(2017)
半导体器件和集成电路
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-03-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS IEC 60748-2-20:2008
半导体器件 集成电路
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2008-09-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS IEC 60748-4-3:2006
半导体器件 集成电路
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2007-02-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS IEC 60748-11:2000
半导体器件 集成电路 不包括混合电路的半导体集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2011-07-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS IEC 60748-23-5:2003
半导体器件 集成电路
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2004-04-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
以上是关于"电工术语-半导体器件和集成电路"的介绍，如有其他问题可以咨询工程师为您服务！
实验室仪器
荣誉资质
服务项目
SERVICE PROJECT
