表面化学分析-深度剖析-溅射深度测量
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CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 29557-2013
表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-07-19
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 32999-2016
表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-10-13
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
KS D ISO TR 15969-2011(2021)
表面化学分析深度剖面溅射深度测量
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2011-12-30
- 【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
KS D ISO TR 15969-2011(2016)
表面化学分析深度剖面测量溅射深度
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2011-12-30
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 20175-2006
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-03-27
- 【CCS分类】N33基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 40109-2021
表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-05-21
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 34326-2017
表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-09-29
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 32997-2016
表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-10-13
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 32495-2016
表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-02-24
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO/TR 15969:2001
表面化学分析——深度剖面——溅射深度的测量
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2001-05-31
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS DD ISO/TR 15969:2001
表面化学分析 深度剖面 溅射深度的测量
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2001-10-01
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】化学分析
GB/T 41064-2021
表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO/TR 22335:2007
表面化学分析——深度剖面——溅射速率的测量:使用机械触针轮廓仪的网格复制法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2007-07-02
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS PD ISO/TR 22335:2007
表面化学分析 深度剖面 溅射速率的测量 使用机械触针轮廓仪的网格复制方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2007-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
ISO/TR 15969:2021
表面化学分析 - 深度分析 - 溅射深度的测量
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2021-03-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
20233734-T-469
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
GB/T 22572-2008
表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-12-11
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
20240152-T-469
表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-03-25
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40
BS 04/30098988 DC
ISO 22335 表面化学分析 深度剖面 溅射速率的测量 使用机械触针轮廓仪的网格复制法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2004-10-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20240005-T-469
表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-03-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
