硅材料原生缺陷图谱
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-23 21:44:13 点击数：
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GB/T 30453-2013
硅材料原生缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-12-31
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 43612-2023
碳化硅晶体材料缺陷图谱
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/IFA 003-2021
金属材料缺陷知识图谱标准
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-12-29
- 【CCS分类】D07计算机应用
- 【ICS分类】35.240.50信息技术在工业中的应用
T/IFA 0003-2021
金属材料缺陷知识图谱团体标准
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-12-29
- 【CCS分类】D07计算机应用
- 【ICS分类】35.240.50信息技术在工业中的应用
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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