椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 31225-2014
椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-09-30
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.01长度和角度测量综合
