原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 31227-2014
原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-09-30
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.20表面特征
GB/T 32189-2015
氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
ISO 19606:2024
精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） 原子力显微镜对细陶瓷膜表面粗糙度的测试方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2024-11-01
- 【CCS分类】核仪器与核探测器
- 【ICS分类】81.060.30高级陶瓷
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 8.700-2010
确保测量一致性的状态系统 通过扫描探针原子力显微镜测量表面粗糙度有效高度的方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】F80/89
- 【ICS分类】17.040.01长度和角度测量综合
ISO 19606:2017
精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） 原子力显微镜对细陶瓷膜表面粗糙度的测试方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2017-01-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】81.060.30高级陶瓷
