氮化镓单晶衬底片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 32188-2015
氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
T/ZSA 231-2024
氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2024-05-15
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/IAWBS 015-2021
氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-09-15
- 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/IAWBS 017-2022
金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2022-12-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
