采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-04-25
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
