低压熔断器 半导体器件保护用熔断体的补充要求
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-10 10:37:22 点击数：
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GB 13539.4-1992
低压熔断器 半导体器件保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-07-01
- 【CCS分类】K31低压配电电器
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
IEC 60269-4:2024
低压熔断器.第4部分:半导体器件保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2024-08-09
- 【CCS分类】低压配电电器
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
IEC 60269-4:2024 CMV
低压熔断器.第4部分:半导体器件保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2024-08-09
- 【CCS分类】低压配电电器
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
KS C IEC 60269-4-2023
低压熔断器第4部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2023-11-01
- 【CCS分类】低压配电电器
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
GB/T 13539.4-2016
低压熔断器 第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-04-25
- 【CCS分类】K31低压配电电器
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
KS C IEC 60269-4-2018
低压熔断器第4部分:半导体器件保护用机身连接的补充要求
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2018-03-14
- 【CCS分类】低压配电电器
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
DIN EN 60269-4/A2-DRAFT
文件草案.低压熔断器.第4部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求（IEC 32B/634/CD:2014）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2015-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】熔断器和其他过载保护装置
DIN EN 60269-4/A1-DRAFT
文件草案.低压熔断器.第4部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求（IEC 32B/572/CD:2010）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2011-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】熔断器和其他过载保护装置
GB/T 13539.7-2024
低压熔断器 第7部分：电池和电池系统保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-04-25
- 【CCS分类】K31
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
GB/T 13539.6-2024
低压熔断器 第6部分：太阳能光伏系统保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-04-25
- 【CCS分类】K31
- 【ICS分类】29.120.50熔断器和其他过载保护装置
AS 60269.4.0-2005
低压熔断器.半导体器件保护用熔断器的补充要求
- 【发布单位或类别】 AU-AS澳大利亚标准
- 【发布日期】2005-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】熔断器和其他过载保护装置
UNE-EN 60269-4-1:2004
低压熔断器第4-1部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求第一至第三节:标准化熔断器类型示例
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2004-03-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】熔断器和其他过载保护装置
UNE-EN 60269-4:1997
低压保险丝 第4部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】1997-11-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】熔断器和其他过载保护装置
UNE-EN 60269-4/A1:1997
低压保险丝 第4部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】1997-11-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】熔断器和其他过载保护装置
IEC 60269-4:2009+AMD1:2012+AMD2:2016 CSV
低压熔断器第4部分:熔断器的补充要求 半导体器件保护用熔断器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2016-08-12
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.50
IEC 60269-4:2009+AMD1:2012 CSV
低压熔断器第4部分:熔断器的补充要求 半导体器件保护用熔断器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2012-05-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.50
GB/T 13539.4-2009
低压熔断器 第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-04-21
- 【CCS分类】K31
- 【ICS分类】29.120.50
GB/T 13539.4-2005
低压熔断器 第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-08-03
- 【CCS分类】K31
- 【ICS分类】29.120.50
IEC 60269-4:2009/AMD2:2016
修改件2.低压熔断器.第4部分:半导体器件保护用熔断器的补充要求
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2016-08-12
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.50
IEC 60269-4:2009/AMD1:2012
修改件1.低压熔断器.第4部分:半导体器件保护用熔断体的补充要求
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2012-05-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.50
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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