X射线衍射仪和荧光分析仪放射卫生防护标准
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高新技术企业
GB 16355-1996
X射线衍射仪和荧光分析仪放射卫生防护标准
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-05-23
- 【CCS分类】C57放射卫生防护
- 【ICS分类】13.280辐射防护
GBZ 115-2002
X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准
- 【发布单位或类别】 CN-GB-GBZ卫生部国家职业卫生标准
- 【发布日期】2002-04-08
- 【CCS分类】C57放射卫生防护
- 【ICS分类】13.100职业安全、工业卫生
20131191-Q-604
无损检测仪器 X射线衍射仪和荧光分析仪防护要求
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2014-01-24
- 【CCS分类】J00/09机械综合
- 【ICS分类】19.100无损检测
JC/T 1085-2008
水泥用X射线荧光分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-JC行业标准-建材
- 【发布日期】2008-06-16
- 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】17.180.30光学测量仪器
GB/T 35734-2017
便携式管激发X射线荧光分析仪 分类、安全要求及其试验
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-12-29
- 【CCS分类】F86放射性同位素应用仪器
- 【ICS分类】27.120核能工程
EJ/T 684-2016
便携式能量色散X射线荧光分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-EJ行业标准-核工业
- 【发布日期】2016-12-14
- 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】27.120.01核能综合
JB/T 12962.2-2016
能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2016-10-22
- 【CCS分类】N53电化学、热化学、光学式分析仪器
- 【ICS分类】71.040.10化学实验室、实验室设备
JB/T 12962.3-2016
能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2016-10-22
- 【CCS分类】N53电化学、热化学、光学式分析仪器
- 【ICS分类】71.040.10化学实验室、实验室设备
JJF 1133-2005
X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2005-04-28
- 【CCS分类】教学专用仪器
- 【ICS分类】教育
JY/T 0588-2020
单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-JY行业标准-教育
- 【发布日期】2020-09-29
- 【CCS分类】Y51金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】03.180金属材料化学分析
YB/T 5336-2006
高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
- 【发布单位或类别】 CN-YB行业标准-黑色冶金
- 【发布日期】2006-07-27
- 【CCS分类】H21非金属矿
- 【ICS分类】77.040.30非金属矿
HS/T 12-2006
滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X射线衍射仪法
- 【发布单位或类别】 CN-HS行业标准-海关
- 【发布日期】2007-03-28
- 【CCS分类】D50/59核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】73.080辐射测量
EJ/T 767-1993
放射源激发的X射线荧光分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-EJ行业标准-核工业
- 【发布日期】1993-04-14
- 【CCS分类】F80通用核仪器
- 【ICS分类】17.240核能工程
EJ/T 684-1992
便携式源激发X射线荧光分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-EJ行业标准-核工业
- 【发布日期】1992-07-24
- 【CCS分类】F81辐射防护仪器
- 【ICS分类】27.120化学分析
EJ/T 633-1992
管激发能量色散X荧光分析仪
- 【发布单位或类别】 CN-EJ行业标准-核工业
- 【发布日期】1992-03-16
- 【CCS分类】F84金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】化学分析
KS D ISO 14706-2003(2023)
表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2003-12-29
- 【CCS分类】无机盐
- 【ICS分类】71.040.40金属材料化学分析
KS D ISO 14706-2003(2018)
表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2003-12-29
- 【CCS分类】质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置
- 【ICS分类】71.040.40盐
GB/T 8359-1987
高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1987-12-07
- 【CCS分类】H21
- 【ICS分类】77.040.30
GB/T 19421.1-2003
层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-12-11
- 【CCS分类】G12
- 【ICS分类】71.060.50
JY/T 008-1996
四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- 【发布单位或类别】 CN-JY行业标准-教育
- 【发布日期】1997-01-23
- 【CCS分类】N54
- 【ICS分类】
