光学系统杂(散)光测量方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-19 12:09:39 点击数：
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GB/T 10988-2009
光学系统杂（散）光测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-09-30
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】37.020光学设备
GB/T 10988-1989
光学系统杂(散)光测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】N30光学仪器综合
- 【ICS分类】17.180.20颜色和光的测量
ISO 20954-1:2019
数码相机.图像稳定性能的测量方法.第1部分:光学系统
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2019-07-24
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】37.040.10摄影设备、投影仪
GB/T 11297.12-2012
光学晶体消光比的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】L21时间、频率计量
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 43785-2024
光钟性能表征及测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】A57光电子器件综合
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 43690-2024
成像衍射光学元件衍射效率的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】L50激光器件
- 【ICS分类】17.180.99有关光学和光学测量的其他标准
GB/T 30117.4-2023
灯和灯系统的光生物安全 第4部分：测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-11-27
- 【CCS分类】L51计算机外围设备
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 34973-2017
LED显示屏干扰光现场测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】L63人工晶体
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
GB/T 39865-2021
单轴晶光学晶体折射率测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-03-09
- 【CCS分类】Q65筛分、筛板与筛网
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
GB/T 29024.2-2016
粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第2部分：液体颗粒计数器光散射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2016-02-24
- 【CCS分类】A28元素半导体材料
- 【ICS分类】19.120粒度分析、筛分
GB/T 29850-2013
光伏电池用硅材料补偿度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-11-12
- 【CCS分类】H82微电路综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 34894-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 34900-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】L55光电子器件综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43736-2024
精密光频测量中光学频率梳性能参数测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】L50筛分、筛板与筛网
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 29024.4-2017
粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第4部分：洁净间光散射尘埃粒子计数器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-09-29
- 【CCS分类】A28筛分、筛板与筛网
- 【ICS分类】19.120粒度分析、筛分
GB/T 29024.3-2012
粒度分析 单颗粒的光学测量方法：第3部分：液体颗粒计数器光阻法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】A28微电路综合
- 【ICS分类】19.120粒度分析、筛分
GB/T 34893-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】L55物理电源
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 6495.10-2012
光伏器件 第10部分：线性特性测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】K83光学仪器综合
- 【ICS分类】27.160太阳能工程
JB/T 9495.7-1999
光学晶体光学均匀性测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】1999-08-06
- 【CCS分类】N30颜色
- 【ICS分类】17.180光学和光学测量
HG/T 4608-2014
光学功能薄膜 颜色的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-HG行业标准-化工
- 【发布日期】2014-05-06
- 【CCS分类】A26
- 【ICS分类】17.180.20颜色和光的测量
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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