射频连接器 第202部分：电气试验方法 插入损耗
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-19 20:09:12 点击数：
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GB/T 11313.202-2018
射频连接器 第202部分：电气试验方法 插入损耗
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L27连接器
- 【ICS分类】33.120.10同轴电缆、波导和其他射频电缆
GB/T 11313.201-2018
射频连接器 第201部分：电气试验方法 反射系数和电压驻波比
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L27电子元件
- 【ICS分类】33.120.10同轴电缆、波导和其他射频电缆
IEC 61169-1-2:2019
射频连接器.第1-2部分:电气试验方法.插入损耗
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-09-12
- 【CCS分类】电子元件
- 【ICS分类】33.120.30射频连接器
20240592-T-339
射频连接器 第106部分：电气试验方法 射频功率
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-03-25
- 【CCS分类】L23连接器
- 【ICS分类】33.120.30射频连接器
DIN EN IEC 61169-1-2
射频连接器.第1-2部分:电气试验方法.插入损耗（IEC 61169-1-2-2019）；德文版EN IEC 61169-1-2:2019
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2021-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】射频连接器
IEC 61169-1-6:2022
射频连接器第1-6部分:电气试验方法射频功率
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2022-02-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】33.120.30射频连接器
EN IEC 61169-1-6:2022
射频连接器第1-6部分:电气试验方法射频功率
- 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
- 【发布日期】2022-04-01
- 【CCS分类】L10/34
- 【ICS分类】33.120.30射频连接器
IEC 61169-1-4:2020
射频连接器第1-4部分:电气试验方法电压驻波比、回波损耗和反射系数
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-07-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】33.120.30同轴电缆、波导和其他射频电缆
IEC 61169-1-5:2022
射频连接器第1-5部分:电气试验方法上升时间衰减
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2022-02-03
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】33.120.10同轴电缆、波导和其他射频电缆
EN IEC 61169-1-5:2022
射频连接器第1-5部分:电气试验方法上升时间衰减
- 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
- 【发布日期】2022-03-18
- 【CCS分类】L10/34
- 【ICS分类】33.120.10射频连接器
DIN EN IEC 61169-1-4
射频连接器.第1-4部分:电气试验方法.电压驻波比 回波损耗和反射系数（IEC 61169-1-4-2020）；德国版本EN IEC 61169-1-4:2020
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2021-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】射频连接器
DIN EN 2591-222
航空航天系列.电气和光学连接件.试验方法.第222部分:插入损耗（I.L.）；德语和英语版本EN 2591-222:2007
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2009-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 2591-601
航空航天系列.电气和光学连接件；试验方法.第601部分:光学元件；插入损耗；德语和英语版本EN 2591-601:2001
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2002-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GB/T 14557-1993
射频同轴连接器电气试验和测量程序 反射系数
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-07-31
- 【CCS分类】L23
- 【ICS分类】33.120.30
BS EN IEC 61169-1-5:2022
射频连接器.电气试验方法 上升时间衰减
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2022-06-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC TS 61169-1-51:2020
射频连接器第1-51部分:电气试验技术规范回波损耗频域试验的不确定度规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-10-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】33.120.30
SCTE 04 2021
“F”连接器回波损耗的试验方法
- 【发布单位或类别】 UNKNOWN其他未分类
- 【发布日期】2021-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
NASA GSFC S-311-P-835
微型双轴射频电气连接器
- 【发布单位或类别】 US-NASA美国宇航局
- 【发布日期】2009-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-55339/55 Amendment 1
适配器 连接器 电气 同轴 射频 SMA系列 连接器保护器
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2017-06-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-55339/55 Notice 1-Validation
适配器 连接器 电气 同轴 射频 SMA系列 连接器保护器
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2012-11-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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