电子级水电阻率的测试方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 11446.4-2013
电子级水电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-12-31
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
GB/T 11446.4-1997
电子级水电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-09-01
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】13.060水质
GB/T 5594.5-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-11-27
- 【CCS分类】L32电子技术专用材料
- 【ICS分类】81.060陶瓷
20240187-T-339
电子陶瓷测试方法 第5部分:体积电阻率
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-03-25
- 【CCS分类】金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】31.030电子技术专用材料
SJ/T 11042-1996
电子玻璃体积电阻率为100MΩ·cm时的温度(Tk-100)的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L90材料防护
- 【ICS分类】金属材料试验
GB/T 42271-2022
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】H21电磁兼容
- 【ICS分类】77.040有关电学和磁学的其他标准
QJ 2220.2-1992
涂层电绝缘性能测试方法 绝缘电阻,表面电阻率:体积电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】1992-01-27
- 【CCS分类】A29金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 37977.23-2019
静电学 第2-3部分:防静电固体平面材料电阻和电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2019-08-30
- 【CCS分类】L06稀有金属及其合金分析方法
- 【ICS分类】17.220.99水质综合
GB/T 11297.7-1989
锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】L32
- 【ICS分类】31.200金属材料试验
KS I 3210-2016(2021)
薄膜过滤水电阻率恢复特性的测试方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2016-12-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】13.060.01金属材料试验综合
GB/T 4192-1984
电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1984-03-09
- 【CCS分类】H21
- 【ICS分类】77.040导体材料
KS C 2603-1980(2020)
金属电阻材料的导体电阻和电阻率测试方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】1980-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.040.01其他有色金属及其合金
JIS K 3822:1990
超滤组件过滤水电阻率恢复特性测试方法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】1990-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】电子技术专用材料
BS EN 14617-13:2013
结块的石头 测试方法 电阻率的测定
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2013-04-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】金属材料的其他试验方法
ASTM B193-20
电导体材料电阻率的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2020-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.050电学、磁学综合
20230779-T-469
稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分:电阻率的测试
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】H14
- 【ICS分类】77.120.99
20240185-T-339
电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-03-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.030
ASTM B63-07(2018)
金属导电电阻和 接触材料的电阻率的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2018-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.040.99
JIS C 2525:1999
金属电阻材料导体电阻和电阻率的测试方法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】1999-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C 0256-2002(2022)
硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-05-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.220.01