半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

2025-02-20 02:38:19 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 11685-2003

半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-07-07
  • 【CCS分类】F80核仪器与核探测器综合
  • 【ICS分类】27.120.01核能综合

GB/T 20726-2006

半导体探测器X射线能谱仪通则

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-12-25
  • 【CCS分类】N33电子光学与其他物理光学仪器
  • 【ICS分类】71.040.99有关分析化学的其他标准