压电晶体性能测试术语
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-21 02:33:47 点击数：
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GB/T 12633-1990
压电晶体性能测试术语
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1990-12-28
- 【CCS分类】L32特种玻璃
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 11312-1989
压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】L32微波管
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
GB/T 37240-2018
晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】Q37光学仪器综合
- 【ICS分类】81.040.30玻璃产品
20242033-T-609
闪烁晶体的中子-伽马射线探测性能测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-06-28
- 【CCS分类】体外循环、人工脏器、假体装置
- 【ICS分类】17.240辐射测量
SJ/Z 9008.1-1987
微波电子管电性能的测试 第１部分：术语
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1987-09-14
- 【CCS分类】L37
- 【ICS分类】光学和光学测量
YY 0290.2-1997
人工晶体 第2部分:光学性能及其测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-YY行业标准-医药
- 【发布日期】1997-05-27
- 【CCS分类】N30
- 【ICS分类】17.180频率控制和选择用压电器件与介质器件
YY 0290.3-1997
人工晶体 第3部分:机械性能及其测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-YY行业标准-医药
- 【发布日期】1997-05-27
- 【CCS分类】C45
- 【ICS分类】31.140其他半导体分立器件
ETSI TR 101 577
测试方法和规范（MTS）；分布式系统的性能测试；概念和术语
- 【发布单位或类别】 IX-ETSI欧洲电信标准协会
- 【发布日期】2011-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】其他半导体分立器件
20241488-T-339
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-05-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99
IEC 62951-9:2022
半导体器件.柔性和可拉伸半导体器件.第9部分:单晶体管和单电阻器（1T1R）电阻存储单元的性能测试方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2022-12-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99
DIN 4102-11
建筑材料和建筑构件的防火性能；管道外壳、管道衬套、服务轴和管道 以及穿过检查孔的屏障；术语、要求和测试
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1985-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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