硅单晶
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-21 13:13:22 点击数：
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GB/T 12962-2015
硅单晶
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 26069-2022
硅单晶退火片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-03-09
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 29504-2013
300mm 硅单晶
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-05-09
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 30656-2023
碳化硅单晶抛光片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-03-17
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 25076-2018
太阳能电池用硅单晶
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 29506-2013
300mm 硅单晶抛光片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-05-09
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 26065-2010
硅单晶抛光试验片规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2011-01-10
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 30866-2014
碳化硅单晶片直径测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-07-24
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
YS/T 1167-2016
硅单晶腐蚀片
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2016-07-11
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 41765-2022
碳化硅单晶位错密度的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 29508-2013
300mm 硅单晶切割片和磨削片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-05-09
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 32278-2015
碳化硅单晶片平整度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 42263-2022
硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 41325-2022
集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-03-09
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 24574-2009
硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
DB31/ 792-2020
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
- 【发布单位或类别】 CN-DB31上海市地方标准
- 【发布日期】2020-03-25
- 【CCS分类】F01技术管理
- 【ICS分类】27.010能源和热传导工程综合
GB/T 12962-2005
硅单晶
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-09-19
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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