电子材料晶片参考面长度测量方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 13387-2009
硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 13387-1992
电子材料晶片参考面长度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-02-19
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.140.50扁平钢和半成品
ASTM F671-99
硅和其他电子材料晶片测量扁平长度的标准测试方法（2003年退款）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1999-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
