半导体变流器 电气试验方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-22 04:03:01 点击数：
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GB/T 13422-2013
半导体变流器 电气试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-07-19
- 【CCS分类】K46电力半导体器件、部件
- 【ICS分类】29.200整流器、转换器、稳压电源
GB/T 13422-1992
半导体电力变流器 电气试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-04-13
- 【CCS分类】K81交直流电源装置
- 【ICS分类】29.200整流器、转换器、稳压电源
DB13/T 6033-2024
半导体器件低浓度氢效应试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-DB13河北省地方标准
- 【发布日期】2024-10-28
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080半导体分立器件
QJ 10004-2008
宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】半导体分立器件
SJ/Z 9016-1987
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1987-09-14
- 【CCS分类】L04半导体分立器件综合
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-12-22
- 【CCS分类】L40敏感元器件及传感器
- 【ICS分类】31.080半导体器分立件综合
SJ 20079-1992
金属氧化物半导体气敏元件试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1992-11-19
- 【CCS分类】L15半导体分立器件综合
- 【ICS分类】酸
20201539-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-04-01
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
20201546-T-339
半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-04-01
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01
KS M 1804-2008(2023)
半导体用氢氟酸试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2008-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.060.30
MIL MIL-STD-750F Change 2(all previous changes incorporated)
半导体器件的试验方法
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2016-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-STD-750F Change 1(change incorporated)
半导体器件的试验方法
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2013-04-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-STD-750F
半导体器件的试验方法
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2011-01-03
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-STD-750-3 Change 1
半导体器件晶体管电气试验方法第3部分:试验方法3000至3999
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2019-12-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-39:2022
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2022-03-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C IEC 60749-2004(2020)
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-08-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
BS EN IEC 60749-41:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-09-09
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-30:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-09-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-20:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-10-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN IEC 60749-15:2020
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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