印制电路网格体系
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-22 10:28:56 点击数：
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GB/T 1360-1998
印制电路网格体系
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-03-20
- 【CCS分类】L30印制电路
- 【ICS分类】31.180印制电路和印制电路板
MIL MIL-DTL-55302/164D
印制电路板用160触点位置的印制电路组件和附件连接器 2.54 MM X 1.27 MM偏移网格 米制（取代MIL-C-55302/164C）
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2004-07-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-DTL-55302/162D
印制电路板用连接器、印制电路组件和附件、插头、17、29、33、41、53和65触点位置、2.54 MM X 1.27 MM偏移网格、公制（取代MIL-C-55302/162C）
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2004-07-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DOD DOD-C-55302/163B
印制电路板用连接器、印制电路组件和附件插头72、84、96和120触点位置2.54 MM X 1.27 MM偏移网格 米制（S/S由MIL-C-55302/163C规定）
- 【发布单位或类别】 US-DOD美国国防部标准化文件（含MIL标准）
- 【发布日期】1985-07-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DOD DOD-C-55302/162B
印制电路板用连接器、印制电路组件和附件插头17、29、41、53和65触点位置2.54 MM X 1.27 MM偏移网格 米制（S/S由MIL-C-55302/162C规定）
- 【发布单位或类别】 US-DOD美国国防部标准化文件（含MIL标准）
- 【发布日期】1985-07-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-DTL-55302/27J
印制电路组件和附件连接器:印制电路板（.100平方网格）用30 THRY 140触点位置插座（取代MIL-C-55302/27H）
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2003-12-03
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-C-55302/160C Amendment 1
印制电路组件和附件连接器 插座72、84、96和120接触位置 用于印制线路板 2.54 MM X 1.27 MM偏移网格 公制（代替MIL-C-55302/160B）（S/S BY MIL-DTL-55302/160D）
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1998-09-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 60603-8
印制电路板用频率低于3MHz的连接器.第8部分:基本网格为2.54mm（0.1in） 方形阳触点为0.63mm×0.63mm的印制电路板用两件式连接器（IEC 60603-8-1990）；德文版EN 60603-8:1998
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1998-07-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-C-55302/161C
印制电路组件和附件连接器 插座 160个接触位置 用于印制电路板 2.54 MM X 1.27 MM偏移网格 公制（取代MIL-C-55302/161B）（S/S由MIL-DTL-55302/161D提供）
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】1995-03-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN 45910-115
电子元件质量评定协调体系；详细规范:气候类别55/100/56的印制电路用矩形绝缘径向端接长寿命级金属化聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜电容器DC 63至400 V（CECC 30401-054）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1991-09-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN 175101-809:2000
电子元件质量评定协调体系 详细说明 详细规范:符合CECC 75101-801的短版2.54 mm网格印制板用两件式连接器 质量经过评估
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2000-03-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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