半导体管特性图示仪测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-22 23:52:26 点击数：
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GB/T 13974-1992
半导体管特性图示仪测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L86通用电子测量仪器设备及系统
- 【ICS分类】17.220.20电和磁量值的测量
GB/T 13973-2012
半导体管特性图示仪通用规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】L85电子测量与仪器综合
- 【ICS分类】17.220电学、磁学、电和磁的测量
JJF 1894-2021
半导体管特性图示仪校准仪校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2021-02-23
- 【CCS分类】电子测量与仪器综合
- 【ICS分类】电和磁量值的测量
JJF 1236-2010
半导体管特性图示仪校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2010-01-05
- 【CCS分类】通用电子测量仪器设备及系统
- 【ICS分类】电子技术专用材料
SJ/T 11777-2021
半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2021-03-05
- 【CCS分类】L85通用电子测量仪器设备及系统
- 【ICS分类】温度测量仪器仪表
GB/T 13973-1992
半导体管特性图示仪通用技术条件
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L86电子测量与仪器综合
- 【ICS分类】17.220.20土方机械
SJ 20236-1993
GH2050/51型半导体管特性图示仪校准仪检定规程
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1993-02-09
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】其他半导体分立器件
SJ/T 10229-1991
ＸＪ４８１０半导体管特性图示仪
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-05-28
- 【CCS分类】L86其他
- 【ICS分类】31.030辐射测量
DB13/T 5293-2020
半导体特性图示仪维修规范
- 【发布单位或类别】 CN-DB13河北省地方标准
- 【发布日期】2020-11-19
- 【CCS分类】L85核仪器与核探测器综合
- 【ICS分类】17.200.20其他半导体分立器件
SJ/T 10400-1993
半导体音响电路图示均衡电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1993-09-28
- 【CCS分类】L56其他
- 【ICS分类】53.100半导体器分立件综合
JJG(\u7535\u5b50) 310003-2006
半导体分立器件电容参数测试仪检定规程
- 【发布单位或类别】 CN-JJG国家计量检定规程
- 【发布日期】2006-05-16
- 【CCS分类】电子元器件与信息技术
- 【ICS分类】辐射测量
JJG(\u7535\u5b50) 310002-2006
半导体分立器件直流参数测试仪检定规程
- 【发布单位或类别】 CN-JJG国家计量检定规程
- 【发布日期】2006-05-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】其他半导体分立器件
20231878-T-339
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第7部分：柔性有机半导体封装薄膜阻挡特性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】L47
- 【ICS分类】31.080.99集成电路、微电子学
GB/T 11685-1989
半导体X射线能谱仪的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-10-14
- 【CCS分类】F80
- 【ICS分类】17.240
JJG(\u7535\u5b50) 04008-1987
QE-1A型双基极半导体管 测试仪(试行)
- 【发布单位或类别】 CN-JJG国家计量检定规程
- 【发布日期】1988-01-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
20231578-T-339
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第5部分：柔性材料热特性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】L47
- 【ICS分类】31.080.99
T/CPSS 1004-2025
车规级功率半导体模块动态特性测试规范
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2025-01-22
- 【CCS分类】L
- 【ICS分类】31.080.01
KS C IEC 60759-2009(2019)
半导体X射线能谱仪的标准测试程序
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2009-12-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.240
20231787-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第8部分：薄膜拉伸特性测量的带材弯曲测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99
20231773-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第35部分：柔性MEMS器件弯曲形变下的电特性测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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