半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
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GB/T 14028-1992
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-18
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2000-12-28
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2000-12-28
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10427.1-1993
半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1993-12-17
- 【CCS分类】L55/59微电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10427.2-1993
半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1993-12-17
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1994-06-25
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4377-1996
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10401-1993
半导体集成音响奄路马达稳速电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1993-09-28
- 【CCS分类】G01技术管理
- 【ICS分类】97.140家具
SJ/T 10736-1996
半导体集成电路 ＨＴＬ电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ/T 10741-1996
半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】
SJ/T 10737-1996
半导体集成电路 ＥＣＬ电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】
SJ/T 10735-1996
半导体集成电路 ＴＴＬ电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】
SJ/T 10805-2000
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2000-12-28
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200
