半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)

原创来源:北检院    发布时间:2025-02-23 05:49:21    点击数:

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GB/T 14119-1993

半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1993-01-21
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

KS C IEC 60748-2-7-2002(2017)

半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第7节:集成电路空白详细规范熔丝连接可编程双极只读存储器

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2002-11-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

BS QC 790105:1993

电子元件质量评定协调体系规范 半导体器件 集成电路 空白详细规范 集成电路熔丝可编程双极只读存储器

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】1992-02-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

IEC 60748-2-7:1992

半导体器件 集成电路 - 第2部分:数字集成电路 - 第7部分:集成电路可熔链可编程双极只读存储器的空白详细规范

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】1992-10-23
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.200

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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