硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
CMA资质认定
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高新技术企业
GB/T 1551-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
GB/T 1551-2021
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-05-21
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
\u0413\u041e\u0421\u0422 24392-80
单晶硅和锗 通过四探针法测量电阻率
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
