硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
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高新技术企业
GB/T 1553-2023
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1553-2009
硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 1553-1997
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-06-03
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
ASTM F28-91(1997)
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1997-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
KS D 0265-1989(2019)
通过光电导衰减法测量锗中少数载流子寿命
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】1989-12-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/CASAS 026-2023
碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2023-06-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体材料
ASTM F28-02
通过测量光电导率衰减的批量锗和硅中少数载流子寿命的标准测试方法（2003年撤回）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
KS D 0257-2002(2022)
光电导衰减法测量硅单晶中的少数载流子寿命
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-05-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
KS D 0257-2002(2017)
载流子寿命单晶硅BY光电导衰减法 - 少数民族MEASURING
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-05-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045
