表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
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国家 标准 |
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GB/T 22572-2008 |
现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 71.040.40 中国标准分类号（CCS） G04 | 采 |
英文标题
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 20341:2003
