多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
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国家 标准 |
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GB/T 33236-2016 |
现行 |
| 国际标准分类号(ICS) 71.040.40 中国标准分类号(CCS) G04 |
英文标题
Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会