表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
|
国标 计划 |
|
20240152-T-469
|
正在征求意见 |
| 国际标准分类号（ICS） 71.040.40 中国标准分类号（CCS） G04 | 采 |
英文标题
Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
制修订
修订
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 16531:2020
项目周期
16个月
|
国家 标准 |
|
GB/T 34326-2017 |
现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 71.040.40 中国标准分类号（CCS） G04 | 采 |
英文标题
Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 16531:2013
