硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
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国家 标准 |
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GB/T 39145-2020 |
现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 77.040 中国标准分类号（CCS） H17 |
英文标题
Test method for the content of surface metal elements on silicon wafers—Inductively coupled plasma mass spectrometry
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
