碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法

2025-04-24 14:49:17 阅读 检测标准
CMA资质认定

CMA资质认定

CNAS认可证书

CNAS认可证书

ISO认证

ISO认证

高新技术企业

高新技术企业

英文标题
Determination of boron, aluminum and nitrogen impurity content in silicon carbide single crystal—Secondary ion mass spectrometry
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会