光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
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国家 标准 |
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GB/T 41805-2022 |
现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 81.040.01 中国标准分类号（CCS） N05 |
英文标题
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
归口单位
全国光学和光子学标准化技术委员会
