原创来源:北检院 发布时间:2025-06-17 11:30:29 点击数:
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芯片探针台ESD防护评估是针对半导体制造和测试过程中静电放电(ESD)防护能力的专业检测服务。随着集成电路技术的快速发展,ESD对芯片的潜在危害日益突出,可能导致器件性能下降甚至永久性损坏。本检测服务通过系统评估探针台的ESD防护能力,确保其在生产测试环节中有效避免静电干扰,保障芯片的可靠性和良率。检测涵盖设备设计、材料选择、接地系统、操作环境等多方面因素,为半导体企业提供全面的ESD防护解决方案。
静电放电电压测试, 接地电阻测量, 表面电阻率检测, 电荷衰减时间测试, 静电屏蔽效能评估, 环境湿度影响分析, 操作人员ESD防护评估, 设备绝缘性能测试, 静电电位测量, 电磁兼容性测试, 材料静电特性分析, 探针接触电阻检测, 静电放电路径验证, 设备布局合理性评估, 静电敏感区域划分, 静电防护标识检查, 静电消除器性能测试, 防静电工作台面检测, 静电放电波形分析, 静电防护培训效果验证
手动探针台, 半自动探针台, 全自动探针台, 晶圆级探针台, 芯片级探针台, 高温探针台, 低温探针台, 射频探针台, 微波探针台, 光电子探针台, MEMS探针台, 功率器件探针台, 数字IC探针台, 模拟IC探针台, 混合信号探针台, SoC测试探针台, 存储器测试探针台, 逻辑器件探针台, 传感器测试探针台, 射频识别芯片探针台
人体模型(HBM)测试法:模拟人体静电放电对器件的影响
机器模型(MM)测试法:评估设备金属部件放电对芯片的损害
充电器件模型(CDM)测试法:检测器件自身带电放电的敏感性
表面电阻测试法:测量材料表面电阻以评估静电耗散能力
体积电阻测试法:评估材料整体导电性能
静电电位测量法:量化设备表面静电积累程度
电荷衰减测试法:测定材料上静电荷消散速度
静电屏蔽效能测试法:评估屏蔽材料的静电防护效果
接地连续性测试法:验证设备接地系统的完整性
电磁场扫描法:检测设备周围静电磁场分布
离子平衡测试法:评估离子化静电消除器的性能
温湿度影响测试法:分析环境条件对ESD防护的影响
静电放电波形分析法:研究ESD事件的时域特性
防护标识评估法:检查ESD防护标识的合规性
操作流程审核法:评估标准操作程序中的ESD防护措施
静电电压表, 表面电阻测试仪, 体积电阻测试仪, 静电放电模拟器, 电荷衰减测试仪, 电磁场扫描仪, 接地电阻测试仪, 离子平衡分析仪, 静电屏蔽测试系统, 温湿度记录仪, 示波器, 频谱分析仪, 静电电位计, 静电电荷量测试仪, 绝缘电阻测试仪
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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