电子元器件溶剂残留量检测（IPA/乙二醇吹扫捕集 - GC法 IPC/JEDEC）

原创来源：北检院发布时间：2025-06-19 20:35:13 点击数：

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信息概要

电子元器件溶剂残留量检测（IPA/乙二醇吹扫捕集 - GC法 IPC/JEDEC）是针对电子元器件生产过程中使用的溶剂残留量进行定量分析的重要检测项目。该检测通过吹扫捕集结合气相色谱法（GC）技术，精准测定异丙醇（IPA）和乙二醇等溶剂的残留量，确保产品符合IPC/JEDEC等行业标准。溶剂残留可能影响电子元器件的可靠性、焊接性能和长期稳定性，因此检测是保障产品质量和可靠性的关键环节。

检测项目

异丙醇（IPA）残留量，乙二醇残留量，甲醇残留量，乙醇残留量，丙酮残留量，甲苯残留量，二甲苯残留量，乙酸乙酯残留量，正己烷残留量，环己烷残留量，二氯甲烷残留量，三氯乙烯残留量，四氢呋喃残留量，N-甲基吡咯烷酮残留量，二甲基甲酰胺残留量，乙腈残留量，苯残留量，氯苯残留量，1,4-二氧六环残留量，丁酮残留量

检测范围

集成电路（IC），半导体器件，电阻器，电容器，电感器，二极管，晶体管，继电器，连接器，传感器，振荡器，滤波器，变压器，光电器件，电源模块，微机电系统（MEMS），印刷电路板（PCB），封装材料，电子陶瓷，热敏电阻

检测方法

吹扫捕集-气相色谱法（GC）：通过吹扫捕集技术富集样品中的挥发性有机物，再利用气相色谱进行分离和定量分析。

顶空气相色谱法（HS-GC）：将样品置于密闭容器中加热，待挥发性组分达到气液平衡后，取气相部分进样分析。

液相色谱法（HPLC）：适用于高沸点或热不稳定性溶剂的残留量检测。

质谱联用法（GC-MS）：结合气相色谱和质谱技术，提高检测的准确性和灵敏度。

傅里叶变换红外光谱法（FTIR）：通过红外光谱特征峰定性或定量分析溶剂残留。

热脱附-气相色谱法（TD-GC）：利用热脱附技术释放样品中的挥发性组分，再通过气相色谱分析。

离子色谱法（IC）：适用于检测离子型溶剂的残留量。

紫外-可见分光光度法（UV-Vis）：通过特定波长下的吸光度测定溶剂残留。

核磁共振波谱法（NMR）：用于复杂基质中溶剂的定性和定量分析。

电化学分析法：通过电化学信号检测特定溶剂的残留量。

薄层色谱法（TLC）：简单快速的定性或半定量分析方法。

超临界流体色谱法（SFC）：适用于热不稳定或高极性溶剂的检测。

毛细管电泳法（CE）：高效分离技术，用于复杂样品中溶剂的检测。

荧光光谱法：针对具有荧光特性的溶剂进行高灵敏度检测。

拉曼光谱法：通过拉曼散射光谱定性或定量分析溶剂残留。

检测仪器

气相色谱仪（GC），吹扫捕集装置，顶空进样器，质谱仪（MS），液相色谱仪（HPLC），傅里叶变换红外光谱仪（FTIR），热脱附仪，离子色谱仪（IC），紫外-可见分光光度计（UV-Vis），核磁共振波谱仪（NMR），电化学分析仪，薄层色谱扫描仪，超临界流体色谱仪（SFC），毛细管电泳仪（CE），荧光分光光度计