结晶度广角X射线衍射（WAXD）实验

原创来源：北检院    发布时间：2025-07-10 10:49:12    点击数：

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信息概要

结晶度广角X射线衍射（WAXD）是一种用于分析材料结晶结构的先进技术，广泛应用于高分子材料、药物、纳米材料等领域。通过测量X射线衍射图谱，可以准确测定材料的结晶度、晶粒尺寸、晶型等关键参数。该检测对于产品质量控制、研发优化以及性能评估具有重要意义，尤其在材料科学和工业生产中不可或缺。

检测项目

结晶度：测定材料中结晶相与非结晶相的比例。

晶粒尺寸：分析晶体颗粒的平均大小。

晶型：确定材料中存在的晶体结构类型。

晶面间距：测量晶体中相邻晶面之间的距离。

取向度：评估晶体在材料中的排列方向。

结晶完整性：分析晶体结构的完整性和缺陷。

结晶动力学：研究结晶过程的动力学行为。

结晶温度：测定材料结晶的温度范围。

结晶速率：测量结晶过程的速度。

结晶焓：分析结晶过程中释放或吸收的热量。

结晶熵：评估结晶过程中的熵变。

结晶相变：研究材料在不同条件下的相变行为。

结晶形态：观察晶体的微观形貌。

结晶分布：分析晶体在材料中的分布均匀性。

结晶稳定性：评估晶体在特定条件下的稳定性。

结晶各向异性：测定晶体的各向异性特性。

结晶缺陷：分析晶体中的缺陷类型和密度。

结晶应力：测量晶体内部的应力分布。

结晶界面：研究晶体与基体之间的界面特性。

结晶生长：分析晶体的生长机制和速率。

结晶溶解：测定晶体在溶剂中的溶解行为。

结晶吸附：评估晶体对特定物质的吸附能力。

结晶催化：研究晶体在催化反应中的作用。

结晶电学性能：测定晶体的电学特性。

结晶光学性能：分析晶体的光学特性。

结晶力学性能：评估晶体的力学性能。

结晶热学性能：测定晶体的热学特性。

结晶磁学性能：分析晶体的磁学特性。

结晶化学稳定性：评估晶体在化学环境中的稳定性。

结晶生物相容性：研究晶体在生物环境中的相容性。

检测范围

高分子材料，药物，纳米材料，金属合金，陶瓷，复合材料，聚合物，纤维，薄膜，涂层，半导体，催化剂，电池材料，生物材料，光学材料，磁性材料，电子材料，建筑材料，环保材料，食品包装材料，医疗器械，化妆品，涂料，橡胶，塑料，纺织品，胶粘剂，纸张，木材，玻璃

检测方法

广角X射线衍射（WAXD）：通过测量广角范围内的X射线衍射图谱分析晶体结构。

小角X射线散射（SAXS）：用于分析纳米级结构的晶体信息。

X射线反射（XRR）：测量薄膜材料的厚度和密度。

X射线光电子能谱（XPS）：分析材料表面的化学组成和晶体结构。

X射线荧光光谱（XRF）：测定材料中的元素组成。

X射线吸收精细结构（XAFS）：研究材料的局部结构。

X射线衍射显微术（XRM）：用于三维晶体结构分析。

X射线衍射拓扑术（XDT）：研究晶体的拓扑结构。

X射线衍射动力学（XRD）：分析晶体结构的动态变化。

X射线衍射成像（XDI）：用于晶体结构的可视化分析。

X射线衍射应力分析（XRSA）：测量晶体内部的应力分布。

X射线衍射相分析（XRPA）：确定材料中的相组成。

X射线衍射定量分析（XRQA）：用于晶体含量的定量测定。

X射线衍射定性分析（XRDA）：确定晶体结构的类型。

X射线衍射温度分析（XRTA）：研究温度对晶体结构的影响。

X射线衍射压力分析（XRPA）：研究压力对晶体结构的影响。

X射线衍射湿度分析（XRHA）：研究湿度对晶体结构的影响。

X射线衍射时间分辨分析（XRTRA）：用于动态过程的晶体结构分析。

X射线衍射原位分析（XRIA）：在特定条件下实时分析晶体结构。

X射线衍射非原位分析（XRNOA）：在非原位条件下分析晶体结构。

检测仪器

X射线衍射仪，小角X射线散射仪，X射线反射仪，X射线光电子能谱仪，X射线荧光光谱仪，X射线吸收精细结构分析仪，X射线衍射显微镜，X射线衍射拓扑仪，X射线衍射动力学分析仪，X射线衍射成像仪，X射线衍射应力分析仪，X射线衍射相分析仪，X射线衍射定量分析仪，X射线衍射定性分析仪，X射线衍射温度分析仪

检测流程

1、确认客户委托，寄样。

2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议，进行试验。

5、完成试验，确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示：暂不接受个人委托测试

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