车规MCU高温运行寿命（HTOL）

原创来源：北检院    发布时间：2025-06-13 04:55:18    点击数：

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信息概要

车规MCU高温运行寿命（HTOL）测试是针对汽车级微控制器单元在高温环境下长期运行可靠性的关键评估项目。该测试模拟MCU在极端温度条件下的工作状态，确保其在实际车载环境中能够稳定运行。检测的重要性在于，汽车电子对安全性和可靠性要求极高，HTOL测试能够提前发现潜在失效模式，避免因MCU故障导致的安全隐患，同时满足AEC-Q100等车规认证标准。通过第三方检测机构的专业服务，客户可获取权威数据报告，为产品设计和量产提供可靠依据。

检测项目

高温下的工作电流，高温下的静态电流，高温下的时钟频率稳定性，高温下的电压波动，高温下的信号完整性，高温下的存储器读写稳定性，高温下的GPIO功能，高温下的ADC精度，高温下的PWM输出稳定性，高温下的通信接口性能，高温下的看门狗功能，高温下的复位功能，高温下的中断响应时间，高温下的功耗分布，高温下的散热性能，高温下的封装可靠性，高温下的焊点可靠性，高温下的长期运行稳定性，高温下的EMC性能，高温下的寿命预测模型验证

检测范围

8位车规MCU，16位车规MCU，32位车规MCU，ARM架构车规MCU，RISC-V架构车规MCU，DSP功能车规MCU，多核车规MCU，低功耗车规MCU，高性能车规MCU，车载娱乐系统MCU，车身控制MCU，动力系统MCU，底盘控制MCU，ADAS系统MCU，车载网络MCU，传感器接口MCU，电机控制MCU，BMS管理MCU，车载通信MCU，功能安全认证MCU

检测方法

高温动态老化测试：在125℃~150℃环境下施加额定电压并运行测试程序。

参数漂移测试：监测高温环境下电气参数随时间的变化趋势。

加速寿命测试：通过提高温度加速失效机制，推算正常使用条件下的寿命。

信号质量分析：使用示波器捕获高温条件下的信号波形质量。

功能验证测试：在高温条件下全面验证MCU各项功能是否正常。

功耗分析：测量不同工作模式下的电流消耗变化。

热阻测试：评估芯片封装的热传导性能。

失效分析：对测试中出现的失效进行根本原因分析。

数据保持测试：验证高温环境下存储器数据的保持能力。

时钟抖动测试：测量高温对时钟信号稳定性的影响。

通信压力测试：在高温下进行高负载通信测试。

复位特性测试：验证高温环境下复位电路的可靠性。

ADC线性度测试：评估高温对模拟数字转换精度的影响。

PWM精度测试：测量高温环境下脉宽调制信号的精度变化。

封装完整性测试：通过声学显微镜检查高温后的封装状态。

检测仪器

高温试验箱，精密电源，数字示波器，逻辑分析仪，信号发生器，网络分析仪，频谱分析仪，功率分析仪，温度记录仪，热成像仪，半导体参数分析仪，老化测试系统，数据采集系统，声学显微镜，X射线检测仪

检测流程

1、确认客户委托，寄样。

2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议，进行试验。

5、完成试验，确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示：暂不接受个人委托测试

以上是关于"车规MCU高温运行寿命（HTOL）"的介绍，如有其他问题可以咨询工程师为您服务！

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