半导体参数分析仪测试仪器-电子测量仪器

半导体参数分析仪

主要用途

半导体参数分析仪是用于半导体器件特性测试的高端设备。广泛应用于半导体研发、集成电路测试等领域，能够测量I-V、C-V等特性。

参数指标

电流测量范围：fA-A级；电压测量范围：μV-kV；分辨率：极高；通道数：多通道。

主要样品类型

适用于半导体器件测试，包括：二极管、晶体管、MOSFET、太阳能电池等。

主要实验项目

I-V特性测试、C-V特性测试、传输特性测试、器件参数提取等。