锗单晶
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-08 19:44:42 点击数：
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GB/T 5238-2019
锗单晶和锗单晶片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2019-06-04
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 5252-2020
锗单晶位错密度的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-06-02
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 26072-2010
太阳能电池用锗单晶
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2011-01-10
- 【CCS分类】H82元素半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 5238-2009
锗单晶和锗单晶片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H66稀有分散金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 5238-2009e
锗单晶和锗单晶片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H66稀有分散金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
YS/T 1182-2016
锗单晶安全生产规范
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2016-07-11
- 【CCS分类】H09卫生、安全、劳动保护
- 【ICS分类】13.100职业安全、工业卫生
GB/T 26074-2010
锗单晶电阻率直流四探针测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2011-01-10
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法
JB/T 12068-2014
TDR-Z直拉法锗单晶炉
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2014-07-14
- 【CCS分类】K61工业电热设备
- 【ICS分类】25.180.10电炉
GB/T 34481-2017
低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-10-14
- 【CCS分类】H25金属化学性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
YS 783-2012
红外锗单晶单位产品能源消耗限额
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2012-05-24
- 【CCS分类】H66稀有分散金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 5238-1995
锗单晶
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-10-17
- 【CCS分类】H81半金属
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 15713-1995
锗单晶片
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-10-17
- 【CCS分类】H81半金属
- 【ICS分类】29.040.20绝缘气体
GB/T 5252-2006
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-18
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB 29447-2022
多晶硅和锗单位产品能源消耗限额
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-29
- 【CCS分类】F01技术管理
- 【ICS分类】27.010能源和热传导工程综合
SJ/T 10625-1995
锗单晶体中间隙氧含量的红外吸收测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-04-22
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1551-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
SJ/Z 2655-1986
锗单晶缺陷图集
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1986-01-21
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】金属材料试验
GB/T 5252-1985
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-07-22
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040半导体材料
20240138-T-469
氮化铝单晶抛光片
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-03-25
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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