酸浸取-原子吸收光谱法测定-多晶硅表面金属污染物
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F1724-96
用酸萃取原子吸收光谱法测量多晶硅表面金属污染的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2001-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F1724-01
通过酸萃取 - 原子吸收光谱法测量多晶硅表面金属污染的标准测试方法（2003年）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2001-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
