硅的仪器中子活化分析测试方法
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GB/T 32277-2015
硅的仪器中子活化分析测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM E3063-24
中子活化分析法测定锑含量的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2024-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ASTM E3063-17
用中子活化分析（NAA）测定锑含量的方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ASTM E3063-16
用中子活化分析（NAA）测定锑含量的方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2016-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
AWPA A91-12
用中子活化分析法测定木材中碘和氯的标准方法
- 【发布单位或类别】 UNKNOWN其他未分类
- 【发布日期】2012-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
AWPA A91-18
用中子活化分析法测定木材中碘和氯的标准方法
- 【发布单位或类别】 UNKNOWN其他未分类
- 【发布日期】
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
ASTM E1855-20
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2020-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
ASTM E1855-15
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2015-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
ASTM E1855-10
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2010-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
ASTM E1855-05
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2005-07-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
ASTM E1855-05e1
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2005-07-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
ASTM E1855-04
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2004-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
ASTM E1855-04e1
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2004-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
ASTM E1855-96
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1996-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
