硅基MEMS制造技术-以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范

2025-01-26 12:47:55 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 32816-2016

硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2016-08-29
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 28277-2012

硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2012-05-11
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

DIN EN 62047-25

半导体器件.微机电器件.第25部分:硅基MEMS制造技术.微键合区域拉压和剪切强度的测量方法(IEC 62047-25-2016);德文版EN 62047-25:2016

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2017-04-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DIN EN 62047-25-DRAFT

文件草稿——半导体器件——微机电器件——第25部分:硅基MEMS制造技术——微键合区域拉压和剪切强度的测量方法(IEC 47F/183/CD:2014)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2014-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】