半导体分立器件文字符号

原创来源:北检院    发布时间:2025-02-20 00:43:41    点击数:

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GB/T 11499-2001

半导体分立器件文字符号

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2001-11-05
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

20233681-T-339

半导体分立器件文字符号

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

SJ/T 11089-1996

半导体分立器件文字符号

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1996-11-20
  • 【CCS分类】L40半导体集成电路
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

GB/T 3431.2-1986

半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1986-07-01
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

20233682-T-339

半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合

SJ/T 10734-1996

半导体集成电路文字符号 电参数文字符号

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1996-11-20
  • 【CCS分类】L56电子元器件
  • 【ICS分类】航空航天制造用零部件

JEDEC JESD77D

分立半导体和光电器件的术语、定义和字母符号

  • 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
  • 【发布日期】2012-08-01
  • 【CCS分类】半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】半导体器分立件综合

JEDEC JESD 77C

分立半导体和光电器件的术语、定义和字母符号

  • 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
  • 【发布日期】2009-10-01
  • 【CCS分类】半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】半导体器分立件综合

GB/T 249-2017

半导体分立器件型号命名方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-05-12
  • 【CCS分类】L40激光器件
  • 【ICS分类】31.080.01光电子学、激光设备

GB/T 43366-2023

宇航用半导体分立器件通用规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-11-27
  • 【CCS分类】3108001半导体三极管
  • 【ICS分类】49.035半导体分立器件

GB/T 12560-1999

半导体器件 分立器件分规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1999-08-02
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01工业自动化系统

GB/T 20516-2006

半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-10-10
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01词汇

GB/T 15651.4-2017

半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-05-31
  • 【CCS分类】L51半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.260

GB/T 7581-1987

半导体分立器件外形尺寸

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1987-03-27
  • 【CCS分类】L42
  • 【ICS分类】31.080

QJ 1511A-1998

半导体分立器件验收规范

  • 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
  • 【发布日期】1998-08-05
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

QJ 10007-2008

宇航用半导体分立器件通用规范

  • 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
  • 【发布日期】2008-02-16
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

SJ/T 11874-2022

电动汽车用半导体分立器件应力试验程序

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2022-10-20
  • 【CCS分类】L40
  • 【ICS分类】

DB61/T 1448-2021

大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

  • 【发布单位或类别】 CN-DB61陕西省地方标准
  • 【发布日期】2021-03-22
  • 【CCS分类】L40
  • 【ICS分类】25.040

SJ/Z 21580-2020

半导体分立器件统计过程控制技术实施指南

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2020-06-03
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DB61/T 1250-2019

Sic(碳化硅)材料半导体分立器件通用规范

  • 【发布单位或类别】 CN-DB61陕西省地方标准
  • 【发布日期】2019-06-25
  • 【CCS分类】L40
  • 【ICS分类】01.040

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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