半导体集成电路分规范 (不包括混合电路)
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-21 08:31:00 点击数：
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GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 12750-1991
半导体集成电路分规范 (不包括混合电路)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1991-03-21
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS IEC 60748-11:2000
半导体器件 集成电路 不包括混合电路的半导体集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2011-07-31
- 【CCS分类】膜集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-11-2020
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2020-07-23
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS QC 790101:1992
电子元件质量评定协调体系 半导体器件 集成电路 不包括混合电路的半导体集成电路分规范 半导体集成电路（不包括混合电路）的内部目视检查
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1992-08-15
- 【CCS分类】膜集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
IEC 60748-11:1990/AMD2:1999
修改件2.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1999-04-16
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-11:1990/AMD1:1995
修改件1.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1995-06-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-11:1990
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1990-12-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L57
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列） 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-11-1-2004(2020)
半导体器件集成电路第11－1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-08-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-20-2021
半导体器件集成电路第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2021-12-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-20-2019
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2019-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-20-2019
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2019-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-21:1997
半导体器件集成电路第21部分:分规范 薄膜集成电路和混合薄膜规范 基于资格认证的集成电路 程序
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-04-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u041c\u042d\u041a 748-11-1-2001
半导体器件集成电路 第11部分 第1部分不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
IEC 60748-11-1:1992
半导体器件 - 集成电路 - 第11-1部分:不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1992-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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