半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

2025-02-21 11:08:44 阅读 检测标准
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GB/T 12843-1991

半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1991-04-28
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学