膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-21 16:57:14 点击数：
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GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-1991
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1991-07-06
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 16466-1996
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 16465-1996
膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用能力批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS QC 760201:1997
电子元件质量评定协调体系 半导体器件 集成电路 基于能力批准程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路空白详细规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1997-08-15
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
BS QC 760101:1997
电子元件质量评定协调体系 半导体器件 集成电路 基于资格认证程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路空白详细规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1997-08-15
- 【CCS分类】膜集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
BS QC 760100:1997
电子元件质量评定协调体系 半导体器件 集成电路 基于鉴定批准程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1997-08-15
- 【CCS分类】技术管理
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
IEC 60748-22-1:1997
半导体器件 - 集成电路 - 第22-1部分:基于能力审批程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的空白详细规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-04-10
- 【CCS分类】微电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS CECC 63201:1985
电子元件质量评定协调体系规范 空白详细规范:薄膜和混合集成电路（能力批准）
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1985-06-15
- 【CCS分类】微电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 8976-1996
膜集成电路和混合膜集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55混合集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L57混合集成电路
- 【ICS分类】31.200电子元器件综合
SJ/T 10155-1991
混合厚膜集成电路HM0006 伴音耦合电路详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-04-02
- 【CCS分类】H01混合集成电路
- 【ICS分类】31.200
SJ/T 10156-1991
混合厚膜集成电路HM0111,HM0114电源误差放大电路详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-04-02
- 【CCS分类】L55/59混合集成电路
- 【ICS分类】31.200
SJ/T 10154-1991
厚膜集成电路HM0005(HM0225)视频负载电路详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-04-02
- 【CCS分类】L55/59
- 【ICS分类】31.200
SJ 2906-1988
电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ７１０３高压限制电路
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1988-03-04
- 【CCS分类】L58
- 【ICS分类】
SJ 2905-1988
电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ９１０２电压设定电路
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1988-03-04
- 【CCS分类】L58
- 【ICS分类】
SJ 2903-1988
电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ８５４６视放电路
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1988-03-04
- 【CCS分类】L58
- 【ICS分类】
SJ/T 10153-1991
电子元器件详细规范 混合厚膜集成电路ＨＭ０００４、ＨＭ０１９０视频输出电路
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-04-02
- 【CCS分类】L58
- 【ICS分类】31.020
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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