半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-21 16:58:25 点击数：
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GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-21-1:1997
半导体器件集成电路第21-1部分:坯料 薄膜集成电路和混合薄膜详细规范 基于资格认证的集成电路 程序
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-04-10
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-22-1:1997
半导体器件 - 集成电路 - 第22-1部分:基于能力审批程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的空白详细规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-04-10
- 【CCS分类】膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 16466-1996
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L57半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 16465-1996
膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用能力批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-1991
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1991-07-06
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.11-2006
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列） 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2001-11-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 9424-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L56微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 18500.1-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器（DAC）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2001-11-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17024-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-10-07
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 7509-1987
半导体集成电路微处理器空白详细规范 （可供认证用）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1987-03-25
- 【CCS分类】L56技术管理
- 【ICS分类】35.160微处理机系统
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10155-1991
混合厚膜集成电路HM0006 伴音耦合电路详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-04-02
- 【CCS分类】H01
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 9425-1988
半导体集成电路运算放大器空白详细规范 （可供认证用）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1988-06-23
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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