硅片直径测量方法 光学投影法
原创来源：北检院 发布时间：2025-02-23 06:24:41 点击数：
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GB/T 14140.1-1993
硅片直径测量方法 光学投影法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-02-06
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 14140.2-1993
硅片直径测量方法 千分尺法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-02-06
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
DB44/T 2088-2018
眼镜式立体投影机光学性能测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-DB44广东省地方标准
- 【发布日期】2018-01-02
- 【CCS分类】M74广播、电视发送与接收设备
- 【ICS分类】33.160音频、视频和视听工程
SJ/T 11543-2015
前投影机光学引擎技术要求及测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2015-10-10
- 【CCS分类】M70广播、电视设备综合
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
SJ/T 11544-2015
数字电视背投影显示器光学引擎技术要求及测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2015-10-10
- 【CCS分类】M70广播、电视设备综合
- 【ICS分类】33.160.25电视接收机
GB/T 29024.3-2012
粒度分析 单颗粒的光学测量方法：第3部分：液体颗粒计数器光阻法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】A28筛分、筛板与筛网
- 【ICS分类】19.120粒度分析、筛分
IEC 62906-5-6:2020
激光显示器第5-6部分:投影屏幕光学性能的测量方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-04-28
- 【CCS分类】筛分、筛板与筛网
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
20233857-T-469
粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第3部分：光阻法液体颗粒计数器
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】A28
- 【ICS分类】19.120粒度分析、筛分
IEC 62906-5-5:2022
激光显示器第5-5部分:光栅扫描视网膜直接投影激光显示器的光学测量方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2022-01-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
JIS B 7072-2:2020
光学玻璃折射率温度系数测量方法第2部分:干涉法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】2020-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
JIS B 7072-1:2020
光学玻璃折射率温度系数测量方法第1部分:最小偏差法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】2020-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
JIS K 3850-1:2000
空气中纤维颗粒的测量方法第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】2000-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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